紅外膜厚儀基于紅外濾波片技術(shù)制造，專業(yè)為工業(yè)和科研環(huán)境使用而設(shè)計(jì)。它圖形化顯示油膜厚度，可選參數(shù)和校準(zhǔn)選擇等選項(xiàng)，更為直觀地給出油膜厚度結(jié)果，方便操作。測(cè)量*不破壞油膜和基底。適用于潤(rùn)滑或防腐保護(hù)油膜，干潤(rùn)滑劑或其他有機(jī)酸涂層。有一種*的方法來確保此儀器處于可靠運(yùn)算狀態(tài)。這種取得的方法是基于使用包含穩(wěn)定的樣品薄膜的基準(zhǔn)樣片。用戶可以通過本基準(zhǔn)樣片很容易的檢查儀器的響應(yīng)。
紅外膜厚儀儀器組成和測(cè)量原理：
由激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號(hào)處理機(jī)測(cè)量結(jié)果顯示系統(tǒng)組成。激光束在被測(cè)物體表面上形成一個(gè)亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產(chǎn)生探測(cè)其敏感面上光斑位置的電信號(hào)。當(dāng)被測(cè)物體移動(dòng)時(shí)，其表面上光斑相對(duì)成像物鏡的位置發(fā)生改變，相應(yīng)地成像點(diǎn)在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化。
利用紅外光穿透物質(zhì)時(shí)的吸收、反射、散射等效應(yīng)實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量薄膜類材料的厚度。當(dāng)射線穿過被測(cè)材質(zhì)時(shí)，一部分射線被材質(zhì)吸收導(dǎo)致強(qiáng)度減弱，利用這一原理來檢測(cè)被測(cè)物質(zhì)的厚度。被測(cè)材質(zhì)位于放射源和核探測(cè)器之間，射線穿過被測(cè)材質(zhì)后進(jìn)入核探測(cè)器，其強(qiáng)度將有所衰減。對(duì)于同一種材質(zhì)，厚度越大，則射線的衰減越大。
紅外膜厚儀進(jìn)行測(cè)量時(shí)有哪些注意事項(xiàng)：
周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
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